數(shù)字IC測(cè)試儀/集成電路測(cè)試儀 型號(hào)：TD-ICT-33C

功能特征 


TD-ICT-33C集成電路測(cè)試儀: 


可測(cè)1300種器件. 


可對(duì)器件好壞判別,型號(hào)判別,老化測(cè)試, 


器件代換查詢,內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改, 


EPROM、EEPROM器件讀出寫(xiě)入.  


功 能 參 數(shù) 


主要功能 


器件好壞判別：當(dāng)不知被測(cè)器件的好壞時(shí)，儀器可判斷其好壞。 


器件型號(hào)判別：當(dāng)不知被測(cè)器件型號(hào)時(shí)，儀器可依據(jù)其邏輯功能來(lái)判斷其型號(hào)。 


器件老化測(cè)試：當(dāng)懷疑被測(cè)器件的穩(wěn)定性時(shí)，儀器可對(duì)其進(jìn)行連續(xù)老化測(cè)試。 


器件代換查詢：儀器可顯示有無(wú)邏輯功能一致、引腳排列一致的器件型號(hào)。 


內(nèi)部RAM數(shù)據(jù)修改：ICT?/FONT>33C可從鍵盤(pán)對(duì)自己內(nèi)部RAM 中的數(shù)據(jù)進(jìn)行隨機(jī)修改。 


EPROM、EEPROM器件讀入：ICT?/FONT>33C可將64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件內(nèi)的數(shù)據(jù)進(jìn)行讀入并保存。 


EPROM、EEPROM器件寫(xiě)入：ICT?/FONT>33C可將內(nèi)部RAM中的數(shù)據(jù)寫(xiě)入到64K以內(nèi)的EPROM、EEPROM器件中，并自動(dòng)校驗(yàn)。 


 


可 測(cè) 器 件（1300多種） 


CMOS40系列：103種。 


CMOSMC140系列：103種。 


CMOS45系列：60種。 


CMOSMC145系列：60種。 


光耦合器系列：133種。 


TTL74/54系列：714種。 


TTL75/55系列：82種。 


數(shù)碼管系列： 


0.5吋共陽(yáng)[001]；共陰[002]；0.3吋共陽(yáng)[003]；共陰[004]；0.7吋共陽(yáng)[005]；共陰[006]。 


常用RAM系列： 


2112 2114 2016 6116 6264 6225 6 60256 628128 


EEPROM系列： 


2816 2817 2864 28256 28040 29101 


EPROM系列： 


2716 2732 2764 27128 27256 27512 


微機(jī)外圍電路系列： 


8155 8156 8255 8253 8259 8212 8282 8283 8216 8816 8243 8226 8205 8286 8287 6820 6821 6880 6888 6887 6889 6810 6520 8254 8251 8279 8708 6840 8718 8728 Z8OCTC（8O2） 


常用單片機(jī)系列： 


8031 8032 8051 8052 8048 8039 8035 8049 8751 8752 


其他系列： 


2002 2003 2004 3486 3487 3459 2631 2632 2633 1831 1908 339 192 293 393 555 556 324 22100 2802 2803 2804 9637 9638 7831 7832 8831 8832 3 446MC1413（2003） MC1416（2004） MC14160（40160） DG201 MC14161（40161） MC14162（40162） MC14163（40163） TIL308 MC14189（75189） 2902（324） 8T26（826） AD7506