SZT-4數(shù)字式四探針測試儀

 二量程的電阻測量儀器，配以手持式測試頭或座式測試架，可用來測量片狀，柱狀，或塊狀，電阻率在0.01~200歐姆/厘范圍內(nèi)的半導(dǎo)體材料。(客戶根據(jù)不同的要求可以選擇不同的量程，zui小可以測量0.0001Ω可以測量100000Ω,根據(jù)電流檔定精度)通過對恒流源的調(diào)整，可以對某些測量結(jié)果進(jìn)行修整，例如對普通硅材料的測試結(jié)果要乘以0.628的探險(xiǎn)頭修正系數(shù)，對硅材料薄層擴(kuò)散和導(dǎo)電薄膜 “方塊電阻“ 的修正系數(shù)為4.53等均可通過調(diào)正恒流電流加以處理。SZT－4數(shù)字式四探針測試儀，體形小巧，操作方便，量程適中，十分適於對重?zé)捇亓系姆诌x。 
本儀器工作環(huán)境條件為： 
溫　　度：18℃―25℃ 
相對濕度：60%－80% 
SZT-4數(shù)字式四探針測試儀技術(shù)參數(shù) 
1,測量范圍 
電 阻 率:0.01-200Ω-cm 
方塊電阻:0.01-200Ω-口 
電    阻:0.01-200.0 
2,數(shù)字電壓表  
(1)量    程:200mV單一量程 
(2)誤    差:讀數(shù) ±0.2%±3字 
(3)輸入電阻:>10MΩ 
3,恒流源 

(1)電流輸出:0~10mA連續(xù)可調(diào) 
(2)量    程:1mA, 10mA 
(3)誤    差:±0.2%±3字, 
4,手持式四探針測試頭 
(1)探  針  間  距:1mm 
(2)探針機(jī)械游移率:±1.0% 
(3)探  針  材  料:碳化鎢,φ0. 
(4)壓力: 2Kg 
5,電源:220V±10%：50Hz 
功耗：5W 
6，外形尺寸： 
7，使用方法：取出儀器平放於桌上，將三芯電源線接入儀器的電源插座中，并接通交流電壓（220V），再將測試探頭的插頭插入相應(yīng)的插座中，按下電源開關(guān)使儀器得電，儀器上的數(shù)字電壓表就有讀數(shù)顯示，如果面板上的二個(gè)功能開關(guān)全部處於彈出狀態(tài)，則二個(gè)開關(guān)旁邊的“調(diào)整”指示燈和：“1mA”指示燈將被點(diǎn)亮，此時(shí)旋轉(zhuǎn)電流調(diào)節(jié)旋鈕電壓表讀數(shù)就會發(fā)生有規(guī)則的變化，這說明儀器已經(jīng)可以正常工作。 
下一步就可以跟據(jù)測試的須要對電流進(jìn)行調(diào)整。電流調(diào)整應(yīng)該將電流開關(guān)放在10mA的位置上。 
8，電流調(diào)整： 
（1）半導(dǎo)體（硅）材料的電阻率測試：在10mA電流量程上將電流調(diào)到6.28mA,相當(dāng)于在10mA電流情況下測得的結(jié)果,乘以探頭修正系數(shù)0.628。由於恒流源的調(diào)整，1mA和10mA是同步的，在`10mA調(diào)準(zhǔn)以后1mA量程同樣包含有這個(gè)修正系數(shù)。 
（2）半導(dǎo)體（硅）材料薄層擴(kuò)散，玻璃或塑料的薄導(dǎo)電鍍復(fù)層的方塊電阻 測試:在10mA電流量程上將電流調(diào)至4.53mA, 測得結(jié)果乘以10,就是方塊電阻。 
（3）電阻測試：電阻測試不能使用探頭，必須換用帶有鱷魚夾子的四線插頭“電阻測試線”（選配件）。電流調(diào)到10mA,電壓表的顯示值就是電阻值，不用修正。 
（4）在做好測試前的準(zhǔn)備工作之后，取下探頭保護(hù)蓋，將探頭壓在被測工件上，使四根探針和工件保持良好接觸， 
使用時(shí)的注意事項(xiàng)； 
（1）保護(hù)蓋取下后一定要保存好，用畢仍要蓋好，以防探針損壞。 
（2）儀器操作時(shí)，應(yīng)備戴乾燥手套，操作場地，桌椅均應(yīng)保持乾燥。 
（3）在被測材料外形尺寸允許的情況下，建議使用臺式測試架（選購件），可使測試精度和穩(wěn)定性都會有所提高。 
（4）對於被測工件為片狀其厚度<3.49毫米時(shí),還應(yīng)對測試結(jié)果進(jìn)行厚度修正,修正參數(shù)見參數(shù)表,附錄`1A和附錄1B 。 
（5）附錄2，是對片狀工件外形（園形，矩形）和測量位置的修正參數(shù)表。 

產(chǎn)品名稱：脈沖式線圈測試儀/數(shù)字式匝間儀  產(chǎn)品型號：TC-WT-3BC203212-5

脈沖式線圈測試儀/數(shù)字式匝間儀 型號：TC-WT-3B 

 
·采用高速A/D轉(zhuǎn)換技術(shù)，可實(shí)時(shí)觀察低感抗線圈波形上升沿 
 的細(xì)微變化，對通常難以測試的低感抗線圈(>1μH)也能快 
 快速、準(zhǔn)確判別品質(zhì)優(yōu)劣 
·內(nèi)置高精度IGBT高壓開關(guān)電源，MCU程控自動調(diào)壓，確保測 
 試過程不受外界電網(wǎng)電壓波動突變影響 



·具有手動模式目測判別，波形縮放隨心所欲、自動模式判別快速、準(zhǔn)確 
·除了提供三種典型的波形面積比較、波形差的面積比較、波形相位比較自動檢查判斷方法外， 還可 
 設(shè)電暈放電量比較功能 
·采用*技術(shù)制造的高壓可控硅模塊（而非充氣氫閘管）作為高壓開關(guān)器件， 大幅降低用戶使用成 
本，大大提高產(chǎn)品穩(wěn)定性、可靠性， 不需預(yù)熱等待，開機(jī)即可正常工作 
·采用良好的抗強(qiáng)干擾電路結(jié)構(gòu)， 確保儀器安全穩(wěn)定工作 
·整機(jī)采用標(biāo)準(zhǔn)化、模塊化設(shè)計(jì)，制造工藝*，結(jié)構(gòu)簡單，操作維護(hù)方便 
·雙重密碼管理權(quán)限任意設(shè)定、解除，便于用戶管理 
·可提供多種組合功能，適合用戶特殊或升級需求 
 ·A/D 轉(zhuǎn)換速率可選，40MHz 
·波形存儲數(shù)目可選，多800種 
·電暈放電量比較功能可選 
·電樞任意片數(shù)線圈繞組自動測試僅需0.5-2秒鐘 
·多繞組線圈一次性測試功能可選 
·上位機(jī)聯(lián)機(jī)進(jìn)行批量試品工藝偏差分析功能可選

產(chǎn)品名稱：非接觸式在線水分測定儀 近紅外在線水分儀 產(chǎn)品型號：SH-8B

SH-8B近紅外在線水分儀，非接觸式在線水分測定儀，是一款應(yīng)用在線式水分控制儀，可以在線距離被測物20-40CM非接觸式測量，提供4-20mA電流型號，受外界環(huán)境影響小，易安裝、易操作，使您的水分檢測無憂。 


SH-8B近紅外水分探測儀對周圍的外界光*不敏感。它為用戶提供精確度快速的檢測速度。此外，SH-8B近紅外在線水分儀的全新設(shè)計(jì)傳感器有更高的可靠性。預(yù)標(biāo)定的探頭允許用戶能輕易可快速在數(shù)分鐘之內(nèi)安裝和使用。 
一、產(chǎn)品功能： 
1．水分非接觸測定； 
2．被測物種類設(shè)定； 
3．被測物水分值校正； 
4．輸出4－20mA 電流信號 
二、技術(shù)參數(shù)：  
測量水分范圍：0%~99% （可根據(jù)用戶需求選擇） 
檢測分辨率：0.1％、0.01％（用戶需求選擇） 
電源：220V 50HZ