產(chǎn)品名稱：雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀 產(chǎn)品型號：KDB-3

雙組合四探針方阻/電阻率測試儀 雙電測四探針測試儀  型號：KDB-3

 KDB-3雙組合測試儀是根據(jù)標準SEMI MF1529設計，雙組合測試方法使用四探針的方式不同于其他ASTM測量半導體電阻率或薄層電阻的方法。在本測試方法中，在測試樣品的每個測量位置上，以兩種不同的方式（配置）將探針連接到提供電流和測量電壓的電路中。四探針的這種使用法通常被稱為“雙配置”或“配置切換”測量。單組合四探針相比，用較小間距的探針頭就可以進行高精度的測量，從而可獲得更高的晶片薄層電阻變化的空間分辨率。  
儀器特點如下：  
1、配有雙數(shù)字表：一塊數(shù)字表在測量顯示硅片電阻率的同時，另一塊數(shù)字表（以萬分之幾的精度）適時監(jiān)測全過程中的電流變化，使操作更簡便，測量更精確。  
數(shù)字電壓表量程：0—199.99mV  靈敏度：10μV  輸入阻抗：1000ΜΩ  
                        基本誤差±(0.04-0.05%讀數(shù)+0.01%滿度)  
2、可測電阻率范圍：10—4 —1.9×104Ω·cm。  
     可測方塊電阻范圍：10—3 —1.9×105Ω/□。  
3、設有電壓表自動復零功能，當四探針頭1、4探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、4探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、3探針間的電壓（即電阻率）值；同樣，當四探針頭1、3探針間未有測量電流流過時，電壓表指零，只有1、3探針接觸到硅片，測量電流渡過單晶時，電壓表才指示2、4探針間的電壓（即電阻率）值，避免空間雜散電波對測量的干擾。  
4、流經(jīng)硅片的測量電流由高度穩(wěn)定（萬分之五精度）的特制恒流源提供，不受氣候條件的影響，整機測量精度＜3%。  
電流量程分五檔：10μA、100μA、1mA、10mA、100mA。  
5、儀器采用觸點電阻更低（＜5mΩ）、使用壽命更長的轉換開頭及繼電器（＞10萬次），在緣電阻、電流容量方面留有更大的安全系數(shù)，提高了測試儀的可靠性和使用壽命。  
6、可選配軟件進行數(shù)據(jù)采集,可進行雙組合或單組合測量，實現(xiàn)自動切換電壓檔位、讀取相應電壓值，根據(jù)不同方法計算電阻率或方塊電阻值；軟件可對測量數(shù)據(jù)進行分析，如平均值，大值、小值、大百分變化率、平均百分變化率、徑向不均勻度等內容。  
7、可配KDDJ-3電動測試架，自動上下運行，使測量更方便快捷。  
8、四探針頭采用上良好的紅寶石軸套導向結構，使探針的游移率減小，測量重復性提高

臺式高速常溫離心機 型號：TD3-18K

產(chǎn)品特點：

◎體積適中，兼容性比較好，適合中小型多功能實驗要求。

◎微機控制，變頻電機驅動。

◎10種加減速可設。

◎多彩LED顯示，操作簡便，顯示更為清晰、直觀。

◎自動計算及設置離心力RCF值，轉速離心力可以相互切換、同步顯示。

◎采用電子門鎖，設有速、不平衡等多種保護，增強安全性。

◎配備多種容量轉子，適用不同實驗需要。

技術參數(shù)：